DTV320二次元光學(xué)影像測量儀

 產(chǎn)品基本參數(shù)                                                      

1.   型號(hào):DTV320

2.   運(yùn)動(dòng)行程(X、Y、Zmm):300×200×150

3.   工作距離:90mm

4.   工作臺(tái)尺寸(W×Dmm)456×366

5.   玻璃臺(tái)尺寸(W×Dmm)360×260

6.   外形尺寸(W×L×Dmm):780×580×1000

7.   儀器基座、立柱及XY移動(dòng)平臺(tái)材質(zhì):高精度、高穩(wěn)定性花崗石

8.   CCD攝影機(jī):德國COMST品牌高清晰彩色CCD攝像機(jī)

9.   變焦物鏡:  0.7X4.5X可連續(xù)變倍之高精密結(jié)構(gòu)光學(xué)物鏡

10. 視頻總倍率:1X鏡筒,30X225X;0.5X鏡筒,15X115X

11. 物方視場:  10.61.6mm

12. 數(shù)顯分辨率:0.001mm

13. XY坐標(biāo)測量示值誤差≤(3+L/200µm , L為被測長度(單位:mm)

14. 重復(fù)測量精度:≤2µm

15. 操作方式:手動(dòng)

16. 測量軟件:DTV 2.5T影像儀專用測量軟件

17. 工作環(huán)境:溫度20±5 ℃,濕度35%-75%(盡量滿足環(huán)境條件),如果溫濕度條件不能達(dá)到以上標(biāo)準(zhǔn),至少要將儀器放置在少灰塵,少油氣,遠(yuǎn)離振動(dòng)源的室內(nèi)。

產(chǎn)品簡介                                                           

DTV次元影像測量儀,擁有獨(dú)特的底座、立柱及移動(dòng)平臺(tái)全花崗石結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),全新的數(shù)字測量計(jì)算方式,穩(wěn)定而精準(zhǔn)的測量精度,是現(xiàn)代化企業(yè)產(chǎn)品尺寸檢驗(yàn)測量不可缺少的精密儀器。

次元影像測量儀為傳統(tǒng)投影儀的升級(jí)替換產(chǎn)品,傳統(tǒng)投影儀只是將物體通過光學(xué)投影放大后利用數(shù)據(jù)處理器進(jìn)行簡易測量,而影像測量儀則是將被測物體通過圖像采集方式清晰地轉(zhuǎn)換到電腦中,并采用DTV 2.5T專用影像測量軟件,針對(duì)拍攝于電腦軟件中的產(chǎn)品圖片,通過不同的測量工具(點(diǎn)、線、圓、圓弧、角度等)來測量物體尺寸,最終以不同文檔格式來保存測量數(shù)據(jù)(WORDEXCELCAD,其準(zhǔn)確性及實(shí)用性均遠(yuǎn)遠(yuǎn)超越傳統(tǒng)投影儀。

次元影像測量儀適用于以二維測量為目的一切應(yīng)用領(lǐng)域,主要應(yīng)用于工件內(nèi)部多種缺陷(焊縫、裂紋、夾雜、氣孔等)的檢測、定位、評(píng)估和診斷,既可以用于實(shí)驗(yàn)室,也可以用于工程現(xiàn)場;廣泛應(yīng)用在鍋爐、壓力容器、航天、航空、電力、石油、化工、海洋石油、管道、軍工、船舶制造、汽車、機(jī)械制造、冶金、金屬加工業(yè)、鋼結(jié)構(gòu)、鐵路交通、核能電力、高校等行業(yè)。

產(chǎn)品特點(diǎn)                                                           

DTV影像測量儀采用德國COMST高清晰彩色CCD攝像機(jī)連續(xù)變焦物鏡作為測量瞄準(zhǔn)系統(tǒng);

由二坐標(biāo)工作臺(tái)、電子光柵尺與數(shù)據(jù)處理器組成數(shù)字元測量及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng);

底座、立柱及移動(dòng)平臺(tái)均采用花崗石結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),外觀簡潔大方,永不生銹,永不變形;

X、Y、Z三軸均采用光桿摩擦精密傳動(dòng),靈敏可靠,無背隙,并能快速移動(dòng);

底光采用LED磨砂冷光源,光源均勻分布,保證產(chǎn)品輪廓各個(gè)角落之光照均勻度;

表面光由3組環(huán)形LED光源組成,均為恒流電源驅(qū)動(dòng),連續(xù)可調(diào);

高品質(zhì)光學(xué)系統(tǒng)及高分辨率CCD,能確保清晰的測量畫面;

儀器具有多種數(shù)據(jù)處理、顯示、輸入、輸出功能,使測量與辦公完全結(jié)合在一起;

儀器與計(jì)算機(jī)連接后,采用專用影像測量儀軟件對(duì)測繪圖形進(jìn)行處理及輸出。

標(biāo)配DTV 2.5T測量軟件,可由鼠標(biāo)自動(dòng)尋邊、找直線、框選圓、自動(dòng)圓、自動(dòng)圓弧、自動(dòng)去毛刺,可測點(diǎn)、線、圓、圓弧、角度、距離等(詳細(xì)軟件功能見以下參數(shù));

可將測量結(jié)果導(dǎo)入AUTOCAD中,與產(chǎn)品原圖進(jìn)行對(duì)比,也可簡單處理形成工程圖;

可將測量數(shù)據(jù)或圖形導(dǎo)入WORDEXCEL做報(bào)表;

 軟件功能介紹                                                      

可測量平面上的任何幾何尺寸(點(diǎn)、線、圓、圓弧、角度、直徑、半徑、點(diǎn)到點(diǎn)的距離、點(diǎn)到線的距離、線到線距離、線到圓的距離、圓到圓的距離等等);

自動(dòng)捕捉功能,開啟自動(dòng)捕捉功能后,測量點(diǎn)、線、圓及圓弧,可自動(dòng)捕捉到最清晰的地方;

框選功能,可通過框選方式測量圓、圓弧及直線,在框選內(nèi)容自動(dòng)找到最接近產(chǎn)品的元素,通過軟件自動(dòng)計(jì)算,準(zhǔn)確測量產(chǎn)品;

計(jì)算機(jī)卡尺:可測量任意圓到圓之間的圓心距或最遠(yuǎn)、最近距離;

角平分線:可平分任意角度;

取交點(diǎn):可求出任意兩條相交線的交點(diǎn);

自動(dòng)兩點(diǎn)線:在單一畫面下可自動(dòng)捕捉工件的邊緣,無須以人工取線,減少人眼誤差,提高測量精度;

自動(dòng)三點(diǎn)圓:在單一畫面下可自動(dòng)捕捉工件的圓半徑、直徑,并繪出圖形,無須以人工取圓,減少人眼誤差,提高測量精度;

自動(dòng)多點(diǎn)線:自動(dòng)捕捉工件邊緣,然后根據(jù)工件邊緣擬合出圖形,從而減少兩點(diǎn)取線及人眼的誤差;

自動(dòng)多點(diǎn)圓:自動(dòng)捕捉工件邊緣,然后擬合出工件的孔徑,并繪出圖形,從而減少三點(diǎn)取圓及人眼的誤差;

自動(dòng)圓:在單一畫面下用鼠標(biāo)框中圖形,可快速自動(dòng)捕捉出圓.;

形位公差:可測量直線的真直度、圓孔的真圓度以及圓環(huán)的內(nèi)外圓的真圓度和同心度。

設(shè)定工件坐標(biāo):可以根據(jù)客戶本身的需要在影像中的實(shí)際工件上自行設(shè)定工件坐標(biāo),有兩點(diǎn)確定X軸、兩點(diǎn)確定Y軸或三點(diǎn)確定坐標(biāo)系等多種設(shè)定方法;

具有坐標(biāo)平移、坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)及坐標(biāo)分中等功能:

公英制轉(zhuǎn)換:測量值可在公制和英制之間切換;

X、Y清零:可用畫面十字線設(shè)置任意點(diǎn)為相對(duì)原點(diǎn),將X、Y坐標(biāo)清零;

“瀏覽”功能: 可觀察工件的全圖形并具有類似AutoCAD的縮放功能;

拍照功能:可拍下測繪圖元及產(chǎn)品照片,包括所標(biāo)注的尺寸;并能將拍下圖片調(diào)入測量軟件中進(jìn)行圖片對(duì)比和處理;

測量數(shù)據(jù)輸出功能:可將測量數(shù)據(jù)或圖形導(dǎo)入WORDEXCEL做報(bào)表;

繪圖及AutoCAD輸出功能:可將實(shí)時(shí)影像中的實(shí)際工件外形進(jìn)行描繪,繪圖方式與AutoCAD相似,并將所描繪的圖形直接輸出到AutoCAD中,經(jīng)過簡單處理形成工程圖;

輔助功能:可把在軟件中繪制出的圖形進(jìn)行移動(dòng)、旋轉(zhuǎn)、復(fù)制、刪除,并可作任意線段的平行線、垂直線;

坐標(biāo)標(biāo)注:可標(biāo)注工件中任意點(diǎn)的坐標(biāo)值;

Pitch標(biāo)注:可標(biāo)注任意點(diǎn)到一條直線的垂直距離,可標(biāo)注任意兩線的垂直距離;

標(biāo)注文字:可在實(shí)時(shí)影像中標(biāo)注文字說明;

改變圖型顏色:可改變?nèi)我鈭D型的線型、顏色;

字體:可改變?nèi)我鈽?biāo)注文字的大小及顏色;

提示功能:在進(jìn)行命令操作時(shí),在命令行中會(huì)出現(xiàn)提示性的操作,從而加快操作人員的熟悉速度;

 

 

該公司產(chǎn)品分類: 激光同軸全自動(dòng)影像測量儀 二次元影像測量儀 全自動(dòng)影像測量儀

4476德國視得樂4476光學(xué)望遠(yuǎn)鏡專賣

德國視得樂4476光學(xué)望遠(yuǎn)鏡專賣產(chǎn)品名稱: 德國視得樂光學(xué)望遠(yuǎn)鏡專賣-德國視得樂望遠(yuǎn)鏡選購指南-詳細(xì)說明產(chǎn)品型號(hào): 4476產(chǎn)品展商: 武漢歐卡科技有限公司簡單介紹【世界望遠(yuǎn)鏡專家】德國視得樂4476㊣新款旅行家10X26 ,德國視得樂光學(xué)望遠(yuǎn)鏡專賣-德國視得樂望遠(yuǎn)鏡選購指南-詳細(xì)說明。世界望遠(yuǎn)鏡專家】德國視得樂4476㊣新款旅行家10X26型號(hào):4476德國視得樂4476光學(xué)望遠(yuǎn)鏡專賣聚焦方式:中心聚焦鏡片:高對(duì)比鏡片防水:具防水功能重量:285克高度:120毫米質(zhì)量:10年視野:98米出光孔:2.6光亮度:6.76透光系數(shù):16.12溫度范圍:零下20到70度專業(yè)配件:耐用的背帶,目鏡蓋,防雨蓋,望遠(yuǎn)鏡包 

德國視得樂4476光學(xué)望遠(yuǎn)鏡專賣

該公司產(chǎn)品分類: 數(shù)碼拍照望遠(yuǎn)鏡 激光測速儀/雷達(dá)測速儀 夜視儀 傳感器 激光測距儀 盤煤儀 視得樂望遠(yuǎn)鏡 蔡司望遠(yuǎn)鏡

HZ-2010定制型光學(xué)影像測量儀

定做影像測量儀

HZ-2010技術(shù)參數(shù)
主機(jī)體尺寸: 600*660*1050金屬臺(tái)尺寸: 360*260玻璃臺(tái)尺寸: 250*150工作行程 : 200*100主機(jī)體重量:120 KGx/y軸精度 :(3+L/100)umz軸精度 :≤5um
Z軸測量方式:光學(xué)物鏡的聚焦來測量垂直方向的階差(非接觸式) 表面照明光源:LED環(huán)形超亮冷光源輪廓照明光源:LED環(huán)形超亮環(huán)形燈計(jì)算測量功能:精密測量系統(tǒng)軟件光柵尺分辨率:0.5umCCD :高分辨率,高像素工業(yè)相機(jī)光學(xué)目鏡:0.5x(可選配1x,2x)(桂林光學(xué))放大倍數(shù)20x-120x/40x-240x工作距離:90mm物方視場:8.2mm-1.2mm/4.1mm-0.6mm載重    :30KG
工作環(huán)境:220v,50/60HZ(用電設(shè)備要求接地可靠),振動(dòng)<0.002g,低于15Hz
 
高精度花崗石底座、立柱,工資太慢保證用于極高的穩(wěn)定性及剛性。
摩擦式精密傳動(dòng)、靈敏可靠、無背隙、并可快速移動(dòng)。
兩層工作臺(tái)設(shè)計(jì)、精密級(jí)V型導(dǎo)軌,保證擁有極高的機(jī)械精度。
高品質(zhì)光學(xué)系統(tǒng)和高分辨率CCD,確保擁有高品質(zhì)的測量畫面。
旋轉(zhuǎn)盤角度可360度,直徑是150mm,方便生、熟手操作。
LED環(huán)形表面冷光源及輪廓冷光源,避免工件發(fā)熱產(chǎn)生變形。
精密光學(xué)尺,分辨率為0.0005mm。
專業(yè)2D,3D影像測量軟件,功能強(qiáng)大,操作簡便。
整機(jī)保修十二個(gè)月。
該公司產(chǎn)品分類: 非標(biāo)測量金相顯微鏡 非標(biāo)測量顯微鏡 非標(biāo)工具顯微鏡 非標(biāo)影像測量儀 全自動(dòng)影像測量儀 三次元影像測量儀 手動(dòng)二次影像測量儀 二次元影像測量儀 增強(qiáng)型影像測量儀 標(biāo)準(zhǔn)型影像測量儀 手動(dòng)影像測量儀

WOQISEL-WOQ光學(xué)測量/抄數(shù)系統(tǒng)

WOQ系統(tǒng)是通過一個(gè)聚光鏡激光傳感器,配合由CNC電腦控制的主機(jī),對(duì)測量工件進(jìn)行高速測量。由于聚光鏡激光器的性能,基本上不受工件的表面性質(zhì)影響,包括工件的反光度?梢詼y量至85度的垂直面,配用不同的規(guī)格的物鏡,可以達(dá)至不同的測量精度、重復(fù)性及測量行程。 WOQ SYSREM ⅠX、Y、Z軸行程:150×150×120mm分解度     :0.00625mm定位精度     :0.01mm重復(fù)精度     :2.5um定位速度     :4m/minWOQ SYSTEM ⅡX、Y、Z 軸行程:350×250×120mm

  

影像測量儀光學(xué)影像測量儀

采用天然花崗巖底座和立柱,儀器的極高的穩(wěn)定性和極高的精密度.無間隙摩擦傳動(dòng),可切換快速移動(dòng).LED冷光源(底光和表面光).英國接觸式探針.強(qiáng)大易用的影像+探針專用測量軟件.
東南亞,歐洲
T/T

德國Keller 光學(xué)高溫計(jì)Mikro系列 PV11

 光學(xué)高溫計(jì)Mikro系列  -- 型號(hào)PV11

 

    用于微小和極小物體(0.1毫米)高溫段非接觸性溫度測量,測溫范圍700-3500℃kro PV11應(yīng)用在工業(yè)化研究和生產(chǎn),大學(xué)和研究機(jī)構(gòu)對(duì)燈絲、小型金屬、陶瓷試件進(jìn)行溫度測量或用于吸收光譜測量儀等。

 

  測量原理

  

    強(qiáng)度比較-光學(xué)高溫計(jì)-PV11的測量原理是:通過目鏡可直接觀察的被測物體和一個(gè)裝在儀器中的經(jīng)過精確校準(zhǔn)的參照叉絲進(jìn)行直觀的強(qiáng)度比較為基礎(chǔ)。

    比較叉絲可以被反射到目鏡可觀察的范圍內(nèi),與被測物體的像交叉。通過對(duì)比較叉絲輻射強(qiáng)度的手工調(diào)整,使之與被測物體的輻射強(qiáng)度相符。確認(rèn)他們的亮度相符后,即可在集成數(shù)字顯示器中讀取溫度數(shù)值。

 

  特性

  • 可看清被測物體的大視場
  • 輪廓清晰的被測物體影像
  • 高精度
  • 在不同的測量距離時(shí)可輕松調(diào)整

 

  優(yōu)點(diǎn)

  

  • 發(fā)射率對(duì)測量影響非常小
  • 可測小至0.1mm的物體
  • 特別大的距離系數(shù)(ф1mm的被測物體可在5m遠(yuǎn)處測量).

 

  光學(xué)高溫計(jì)-Mikro系列技術(shù)參數(shù)

 

 

型號(hào)
PV11
測量范圍
700~3000℃,分6段測量范圍,加輔助濾光鏡可測到3500℃
顯示分辨率
1K
測量誤差
1.5%的測量值(700~800℃)
0.6%的測量值(800~2000℃)
2%的測量值(2000~3500℃)
調(diào)整誤差
調(diào)節(jié)誤差與測量者的瞄準(zhǔn)相關(guān),平均為:
1000℃時(shí),±1.5℃; 2000℃時(shí),±5℃
3000℃時(shí),±10℃
重復(fù)性
3K
測量距離
無輔助透鏡: 1m~∞;
有輔助透鏡:0.2~1 m
最小測量光斑
測量距離為1m時(shí)為0.3mm;
測量距離為0.2m時(shí)為0.1mm(帶輔助透鏡)
瞄準(zhǔn)裝置
無視差的瞄準(zhǔn)鏡;發(fā)光顯示的對(duì)照標(biāo)記; 可調(diào)焦鏡頭
校正輔助件
十字轉(zhuǎn)向接頭: 水平: 360°,垂直:90°
顯示
4位數(shù)字顯示,LCD
接口
RS232接口,可把測量值傳輸至計(jì)算機(jī)(提供計(jì)算機(jī)軟件)
可調(diào)節(jié)發(fā)射率
10%~100%可調(diào)節(jié)
工作電壓
15V DC 或 230V AC
光譜靈敏度
測量范圍I: 500~670nm; 測量范圍II: 620~670nm;
測量范圍III: 650~670nm;
允許環(huán)境溫度
10~45℃
存放溫度
0~55℃
外殼材料
鋁合金
外形尺寸
100 X 100 X 450mm

 具體型號(hào)及參數(shù)

 詳情查看

 

 

  光學(xué)高溫計(jì)-Mikro系列應(yīng)用舉例

 

實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備—原子吸收分光計(jì):    對(duì)石墨樣品池的溫度測量真空爐—金屬試件:    對(duì)小金屬試件的溫度測量核物理研究—金屬和陶瓷試件:    鈾片劑燒結(jié)的溫度測量白熾燈裝置    不同金屬合金燈絲溫度邊界的確定大學(xué)和研究所    許多作物理、化學(xué)和材料科學(xué)研究的單位把該儀器當(dāng)作參考(校驗(yàn))高溫計(jì)

 

  隨機(jī)附件    十字轉(zhuǎn)向接頭,電源,計(jì)算機(jī)連線,備用燈,計(jì)算機(jī)軟件,手提箱

 

  可選配件

    近光鏡頭系列,灰光鏡,90°輔助反射鏡,三角架(地面、桌上)生物芯片、芯片掃描儀、芯片點(diǎn)樣儀、芯片檢測儀 其它行業(yè)專用 研磨機(jī)、研磨儀、粉碎機(jī)、球磨機(jī) 電鏡附件及外設(shè) 鍍膜機(jī) 其它粒度分析儀 掃描探針顯微鏡SPM(原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM) 等離子體表面處理儀 光學(xué)表面分析儀 其它消解設(shè)備 其它表面測試 其它無損檢測儀器/設(shè)備 激光脈沖沉積(PLD) 介電常數(shù)測定儀 光譜部件及外設(shè) 電子束刻蝕系統(tǒng) 俄歇電子能譜(AES) 電子/半導(dǎo)體 其它長度計(jì)量儀器 輪廓儀

CBPT-G探針臺(tái)用防震桌,光學(xué)平臺(tái),面包板等供應(yīng)商,優(yōu)惠出售

光學(xué)平臺(tái)

該系列光學(xué)平板是采用鋁合金或含磁不銹鋼精加工而成,重量輕,容易搬動(dòng)。上面陣列的標(biāo)準(zhǔn)孔距螺紋孔便于固定各種調(diào)整架。表面精飾處理,美觀耐用。

特殊規(guī)格,接受定制。

平面度: 0.3mm/600mm

孔距: 25mmX25mm

孔徑: M6

  注:如需購買、咨詢產(chǎn)品,請(qǐng)聯(lián)系:肖生     13410490315     

       或發(fā)送郵件到:aaa          站內(nèi)直接留言,我司均不予回復(fù)。!阻尼防震桌

該系列光學(xué)平臺(tái)臺(tái)面材料為Cr13不銹鋼10.2碳鋼10.6,內(nèi)芯采用蜂窩支撐,合理的硬重比提供優(yōu)良的抗振性能。精心加工的含磁不銹鋼臺(tái)面平面度高,烏光效果特別適用于光學(xué)實(shí)驗(yàn),不刺激眼睛,減少雜散光。臺(tái)面陣列的標(biāo)準(zhǔn)孔距螺紋孔便于固定各種調(diào)整架。

特殊規(guī)格接受定制。  

l 平面度: 0.05mm/m2

孔距: 25mmX25mm

孔徑: M6

粗糙度:<1.6um

表面密迪紋處理

                               空氣獨(dú)立防震桌

空氣彈簧隔離器

水平自動(dòng)調(diào)節(jié)系統(tǒng)

整體型和分體型(獨(dú)立型)

可以安裝了小腳輪,便于搬運(yùn)及移動(dòng)

 

 

該公司產(chǎn)品分類: 氣體放電與等離子體診斷儀 校準(zhǔn)片 Model 7 and Model 7A Model 12C 顯微鏡 轉(zhuǎn)接頭 屏蔽箱 探針夾具 探針座 光學(xué)平臺(tái) Model 1100B Model 500B Model 325B Model 170 Model 220 Model 140 Model 120 Model 90 Model 75 Model 50

GJJ10-2型光學(xué)瓦斯檢測儀校驗(yàn)儀

GJJ10-2型光學(xué)瓦斯檢測器校驗(yàn)儀以差壓傳感器和數(shù)字式溫度傳感器為基礎(chǔ),單片機(jī)為核心的智能儀器,用于替代水柱設(shè)備檢定光學(xué)瓦斯檢測器,可測量差壓和環(huán)境溫度。該儀器的優(yōu)點(diǎn)在于測量精度高、操作簡便、攜帶方便、將壓力源、開關(guān)與微調(diào)為一體等優(yōu)點(diǎn),并可直接與計(jì)算機(jī)、打印機(jī)連接。 主要技術(shù)指標(biāo) 差壓范圍:0~8000Pa   允許誤差:±8 Pa 甲烷濃度:0~10%CH4   度:±0.02% 測量介質(zhì):空氣 使用環(huán)境: 工作溫度:20℃±5℃  度:±0.5℃ 工作濕度:0~90%RH    電源電壓:220V±15%  50Hz 功    能:自動(dòng)檢測差壓、甲烷濃度、環(huán)境溫度、零點(diǎn)及滿量程校準(zhǔn)傳感器、時(shí)間設(shè)置、顯示、打印數(shù)據(jù)報(bào)表、密碼管理

 

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該公司產(chǎn)品分類: 熱工計(jì)量器具 量具修理工具 專用計(jì)量器具 力學(xué)計(jì)量器具 壓力計(jì)量器具 電磁計(jì)量器具 光學(xué)計(jì)量器具 化學(xué)計(jì)量器具

近場掃描光學(xué)顯微鏡(NSOM)

近場掃描光學(xué)顯微鏡的基本構(gòu)造
進(jìn)行NSOM實(shí)驗(yàn),必須將點(diǎn)光源靠到樣品表面納米距離,然后點(diǎn)光源掃描樣品表面,再收集探測經(jīng)過樣品表面的光學(xué)信號(hào)。我們使用經(jīng)金屬涂層處理的帶孔洞椎形光纖作為NSOM探針。光經(jīng)耦合進(jìn)入探針,從亞光波長孔徑的探針尖端發(fā)出,NSOM的分辨率就是由孔徑的大小決定(可以達(dá)到50納米)。點(diǎn)光源和樣品表面的距離通常通過正常的力反饋機(jī)制(與AFM相同)控制,因此可以進(jìn)行接觸、敲擊和非接觸模式的NSOM實(shí)驗(yàn)。針對(duì)不同的材料和實(shí)驗(yàn),通常有四種NSOM操作模式:

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* 透射模式成像——樣品經(jīng)過探針照明,光通過樣品并與樣品相互作用后被收集探測;
* 反射模式成像——樣品經(jīng)過探針照明,光從樣品表面反射并被收集探測;
* 收集模式成像——樣品經(jīng)遠(yuǎn)場光源照明(從上或下面均可),探針將光信號(hào)從樣品表面收集;
* 照明收集模式成像——用同一根探針同時(shí)進(jìn)行照明和收集探測反射光;
收集的光可通過多種探測器探測,如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探測器、CCD或通過光譜儀探測,通過探測器得到的信號(hào)經(jīng)過數(shù)據(jù)處理得到樣品材料的NSOM圖像。
 
儀器特點(diǎn)
1、支持探針+樣品掃描,這對(duì)于波導(dǎo)材料&光子結(jié)構(gòu)的收集模式NSOM和拉曼增強(qiáng)都有極大的幫助;
2、擁有全球最棒的反射模式NSOM,獨(dú)特的硬件設(shè)計(jì)確保系統(tǒng)進(jìn)行反射模式實(shí)驗(yàn)時(shí)擁有與透射模式一樣的收集效率(而一般來說在相同的實(shí)驗(yàn)條件下,反射模式效率比透射模式低三個(gè)量級(jí));
3、可以使用所有種類的NSOM探針,包括我們獨(dú)特的懸臂梁玻璃探針、直光纖探針、帶孔洞的懸臂硅探針、SERS探針、化學(xué)傳感Sol-gel探針等…;
4、我們專利的玻璃探針種類很多,包括NSOM探針、AFM探針、深溝探針、中空AFM探針、拉曼增強(qiáng)探針、離子敏感探針、玻璃絕緣納米金屬絲探針、納米電極、納米鑷子、熱探針(納米加熱)等等…;
5、可以進(jìn)行非接觸NSOM實(shí)驗(yàn)(采用帶孔洞的懸臂硅探針無法做到);
6、針對(duì)液體生物材料NSOM成像擁有更強(qiáng)的信號(hào)(信號(hào)強(qiáng)三個(gè)量級(jí));
7、XYZ向大范圍的掃描尤其是100微米深的Z向掃描范圍,對(duì)于大尺寸納米粒子、粗糙的表面SPM實(shí)驗(yàn)及共聚焦集成都是必須的;
8、獨(dú)特的深溝探針及Flat scan™掃描器可用于帶深溝的MEMs和半導(dǎo)體器件掃描;
9、全球的熱傳導(dǎo)模式成像,支持接觸模式、非接觸模式熱成像,100納米分辨率起;
10、采用專利的FPNTM技術(shù),進(jìn)行氣態(tài)或液態(tài)材料(蛋白質(zhì)、等類似材料)納米加工;
11、全球的雙探針SPM&NSOM系統(tǒng);
12、可與微拉曼光譜、SEM、FIB、光學(xué)顯微鏡實(shí)時(shí)在線聯(lián)用;
13、可以升級(jí)進(jìn)行極端條件下的NSOM或AFM工作……
 
Multi-view系列產(chǎn)品規(guī)格
 操作模式
近場掃描光學(xué)顯微鏡(NSOM)透射模式,反射模式,收集模式,照明模式
原子力顯微鏡(AFM)敲擊模式,接觸模式(選配),所有探針或樣品掃描的AFM操作模式
微分干涉對(duì)比(DIC)反射和透射
折射率成像(Refractive-Index Profiling)反射和透射
在線遠(yuǎn)場共聚焦(和拉曼及熒光光譜成像)反射和透射,針對(duì)選擇性拉曼散射超薄膜的探針增強(qiáng)拉曼散射
熱傳導(dǎo)及擴(kuò)展電阻成像接觸模式,敲擊模式,音叉反饋模式(無反饋激光引入干擾信號(hào),選配) 熱探針可作為納米加熱器使用,納米熱分析、納米相轉(zhuǎn)變等應(yīng)用
 SPM掃描頭規(guī)格
樣品掃描器壓電材料制薄片掃描器 (3D Flat Scanner™)   厚度為7毫米
SPM掃描范圍樣品掃描,最大100 microns (XYZ)
掃描分辨率< 0.005 nm (Z)< 0.015 nm (XY)< 0.002 nm (XY) 低電壓模式
粗調(diào)定位范圍:6毫米
反饋機(jī)制懸臂梁光束反彈反饋,音叉反饋(選配)
樣品幾何要求樣品尺寸:標(biāo)準(zhǔn)配置下,直徑最大至16毫米                     正置顯微鏡下使用,直徑最大至34毫米 特殊樣品形狀:如豎直樣品進(jìn)行邊緣成像等
探針各種針尖外露的玻璃探針,各種常規(guī)懸臂梁硅探針均可使用
 成像分辨率
遠(yuǎn)場
受光衍射幾何限制
光學(xué)
500納米
共聚焦
200納米
近場掃描光學(xué)
100納米,極端條件下可達(dá)到50納米(由探針孔徑?jīng)Q定)
形貌
Z向噪聲0.05納米 rms.XY橫向分辨率:由針尖直徑和樣品的卷積決定
熱成像
100納米起,溫度靈敏度0.01ºC,300 ºC或更高(由樣品決定)
電阻成像
25納米起

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正在對(duì)MEMs器件進(jìn)行AFM選擇性掃描的光學(xué)顯微鏡視野(探針及壓電陶瓷沒有擋住光軸)雙3D Flat-Scanner™支持探針+樣品掃描
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環(huán)境控制腔可以控制溫度、氣氛、濕度及其他環(huán)境指標(biāo) Cryo view超低溫高真空腔體(10K起連續(xù)升溫,10-5托真空)

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