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薄膜材料無損檢測 光功率熱分析儀 (OPA)
本儀器為無損檢測,并可同時檢測材料的相變溫度和熱膨脹系數。opa 的研發(fā)成功,一舉填補了無損檢測納米級薄膜材料相變溫度和熱膨脹系數的國際性技術空白, 能測量低至5nm的薄膜材料。本儀器擁有多項發(fā)明專利,具有獨立知識產權。
更新時間:2025-06-25

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