光學測量儀產(chǎn)品及廠家

光伏測量儀器
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉動，以便測量所有的四個側面。
更新時間:2025-07-05
在線壽命和電阻率逐行掃描儀
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉動，以便測量所有的四個側面。
更新時間:2025-07-05
德國Sentech激動掃描系統(tǒng)
德國sentech激動掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個面在不到4分鐘內完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導率(mdp)同時測量少子壽命、光電導率、電阻率和p/n導電類型的變化。
更新時間:2025-07-05
自動掃描薄膜測量儀器
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動大面積掃描儀器。自動表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監(jiān)測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護后重新開始生產(chǎn)的時間。
更新時間:2025-07-05
德國Sentech光伏測量儀
senperc pv 是perc電池制造質量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測沉積過程的穩(wěn)定性。由此，可以優(yōu)化維護時間間隔。
更新時間:2025-07-05
德國Sentech光伏測量儀器
德國sentech光伏測量儀器mdpspot，具有成本效益的臺式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量點。 低成本桌面式壽命測量系統(tǒng)，用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動操作z軸用于厚度多達156毫米的樣品。標準軟件可輸出可視化的測量結果。
更新時間:2025-07-05
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng)
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設計特點。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機的數(shù)據(jù)通信。
更新時間:2025-07-05
ALD實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應用。
更新時間:2025-07-05
眼鏡鏡片光學透過率儀
ns550a眼鏡鏡片光學透過率儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2025-07-05
多波段透過率測試儀
ns365多波段透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示
更新時間:2025-07-05
中空玻璃測厚儀
ns500中空玻璃測厚儀專用于測量單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測量場合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測量。對于中空玻璃厚度的測量，同時測得各層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時間:2025-07-05
臺式透光率儀
ns550a臺式透光率儀 測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2025-07-05
高精度透過率測試儀
ns12高精度透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2025-07-05
防爆膜測試儀
ns10a防爆膜測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2025-07-05
光學透過率測量儀
ns13a光學透過率測量儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2025-07-05
IR油墨透光率儀
ns550ir油墨透光率儀的測試原理是采用紅外850nm光源，紅外940nm光源和可見550nm光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率,用百分數(shù)表示。
更新時間:2025-07-05
太陽膜透過率測試儀
ns11太陽膜透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，可見光源和紅外光源照射被測透明物質，感應器分別三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2025-07-05
汽車前擋玻璃透光率儀
ns530a汽車前擋玻璃透光率儀具有的三個獨立測試單元分別為紫外，紅外，和可見光，顯示值為紅外透過率值，紫外透過率值和可見光透過率值。
更新時間:2025-07-05
汽車太陽膜透光率測試儀高精度防爆膜測試儀建筑膜檢測儀器
ns101汽車太陽膜透光率測試儀高精度防爆膜測試儀建筑膜檢測儀器的測試原理是采用紫外光源,可見光源和紅外光源照射被測透明物質,感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強,透過光強與入射光強的比值即為透過率,用百分數(shù)表示。大多數(shù)的太陽膜,可見光標注透過率指標,紅外線和紫外線標注阻隔率指標,阻隔率=100%-透過率。ns101直接測量和顯示紫外線的阻隔率,紅外線的阻隔率和可見光透過率,
更新時間:2025-07-05
汽車前檔貼膜透光率測試儀
ns530a汽車前檔貼膜透光率測試儀具有三個獨立測試單元分別為紫外，紅外，和可見光，顯示值為紅外透過率值，紫外透過率值和可見光透過率值。
更新時間:2025-07-05
卡式便攜式透光率儀
ns13a卡式便攜式透光率儀，透光率測試儀，透光率檢測儀，透光率計，透過率測試儀，玻璃透光率儀，鏡片透光率測試儀，眼鏡片透光率儀，透明材料透光率儀，涂料透光率儀，太陽鏡片透光率測試儀
更新時間:2025-07-05
臺式光學透過率測試儀
ns550h臺式光學透過率測試儀測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2025-07-05
便攜式透光率儀
ns15a透光率儀是一款寬譜線可見光(380nm～760nm)測量儀，測試原理是采用三路完全相同的可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三路光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。
更新時間:2025-07-05
中空玻璃空氣層厚度測量儀
ns500中空玻璃空氣層厚度測量儀測試原理是利用光學反射原理，可在玻璃的單側表面測量玻璃厚度，尤其適用于通用測量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的測量場合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃（中空玻璃）窗厚度的測量。對于空氣夾層玻璃的測量，還可以同時獲得兩層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時間:2025-07-05
美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質檢現(xiàn)場使用。
更新時間:2025-07-05
德國YXLON 高分辨率Ｘ射線檢測設備
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設備 y.cougar smt 平板探測器（標配） y.cheetah 高速平板探測器（標配）
更新時間:2025-07-05
美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:2025-07-05
美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側面檢測,可選配芯片轉向功能.
更新時間:2025-07-05
美國RTI自動特性圖示儀
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個性價比較高的曲線追蹤設備。最多到96個channel，提供4種型號可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機型一樣，mt century系統(tǒng)的設計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:2025-07-05
德國Klocke Nanotech 3D納米級三維測量儀
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger，是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進行在線檢測、質量控制等。
更新時間:2025-07-05
日本A&D粒子計數(shù)器（粒度計）
日本a&d粒子計數(shù)器（粒度計）sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設備,計數(shù)值高達2,000,000個粒子/ft.
更新時間:2025-07-05
美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:2025-07-05
美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復雜元器件設計的新一代設備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復設置.
更新時間:2025-07-05
德國Bruker傅氏轉換紅外光譜儀
德國bruker傅氏轉換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉換進而分析雜質濃度的光譜分析儀器。
更新時間:2025-07-05
德國Bruker FT-NIR光譜儀
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥，食品，農(nóng)業(yè)和化學行業(yè)在內的所有行業(yè)的質量控制應用中得到了很好的應用。它為耗時的濕法化學方法和色譜技術提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險化學品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:2025-07-05
德Bruker光學輪廓儀
德bruker光學輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學輪廓儀
更新時間:2025-07-05
德國Sentech 實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應用。
更新時間:2025-07-05
美國OGP光學式坐標測量儀
美國ogp光學式坐標測量儀 zip 250 ，5:1 accucentric 電動變焦透鏡，在每次放大變倍時自動校準，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:2025-07-05
接觸角測定儀
jy—pha接觸角測定儀，用于液體對固體的浸潤性，通過測量液體對固體的接觸角、計算、測定液體對固體的附著力，張力及固體表面能等指標。
更新時間:2025-07-05
接觸角測量儀
100標準型接觸角測量儀，采用高性能日本原裝進口工業(yè)機芯，工業(yè)級連續(xù)變倍顯微鏡，確保圖像的真實性，獲取最佳的成像效果。
更新時間:2025-07-05
美Associated 耐壓測試儀​
美associated 耐壓測試儀​hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot測試儀，用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用，并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后，該系統(tǒng)具有遠程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測系統(tǒng)。
更新時間:2025-07-05
美Montana超精細多功能無液氦低溫光學恒溫器
montana 新型超精細多功能無液氦低溫光學恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動化的控制軟件，簡化了用戶的操作流程。
更新時間:2025-07-05
德國Attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑（na）共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。
更新時間:2025-07-05
美國sinton少子壽命測試儀
sinton少子壽命測試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測試系統(tǒng)，采用了獨特的測量和分析技術，包括準穩(wěn)定態(tài)光電導(qsspc)測量方法？伸`敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應,表面復合效應等缺陷情況。
更新時間:2025-07-05
布魯克Bruker白光干涉光學輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時間:2025-07-05
布魯克Bruker 三維光學輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學輪廓儀，靈活的臺式表面形貌測量設備
更新時間:2025-07-05
布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設計創(chuàng)新，實現(xiàn)了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性高達 5å。第十代 dektakxt臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學域。
更新時間:2025-07-05
日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-41b，可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時間:2025-07-05
日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-07-05
美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000，根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質量為零時的太陽吸收率(空間應用)。它緊湊，輕巧，堅固耐用，符合人體工程學設計，便于在野外或實驗室中使用。
更新時間:2025-07-05

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計（PH計） 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質 生物試劑