光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家
fr-pro 膜厚測(cè)量?jī)x 用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的 涂層的模塊化和可擴(kuò)展平臺(tái)。
更新時(shí)間:2025-07-05
fr-scanner 是一款緊湊的臺(tái)式測(cè)量工具，全自動(dòng)測(cè)繪涂層的厚度，基底適用于晶圓，掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準(zhǔn)確地測(cè)量薄膜特性，比如厚度，折射系數(shù)，均勻性，色度等，真空吸盤(pán)可應(yīng)用于任何直徑或其它形狀的樣品。
更新時(shí)間:2025-07-05
德國(guó)optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀，用于測(cè)量管狀或平面太陽(yáng)能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎(chǔ)是測(cè)量來(lái)自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時(shí)間:2025-07-05
德optosol-k3 太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀，k3型發(fā)射率檢測(cè)儀由一個(gè)被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個(gè)對(duì)波長(zhǎng)在8-14μm范圍的光線敏感的探測(cè)器組成。 來(lái)自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測(cè)器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測(cè)量的是由樣品反射回來(lái)的輻射。
更新時(shí)間:2025-07-05
optosol absorber control k1 太陽(yáng)能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x，
更新時(shí)間:2025-07-05
trisol aaa美國(guó)oai標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能模擬器，低成本，標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)模擬器提供高度準(zhǔn)直，均勻的光，幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽(yáng)光下長(zhǎng)時(shí)間或短時(shí)間的基本測(cè)試。根據(jù)配置，這些太陽(yáng)能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時(shí)間:2025-07-05
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國(guó)oai太陽(yáng)能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽(yáng)模擬器可以提供一個(gè)范圍的空氣質(zhì)量過(guò)濾器復(fù)制太陽(yáng)能模擬太陽(yáng)的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個(gè)廣泛的接觸區(qū)域。
更新時(shí)間:2025-07-05
美國(guó) d&s 發(fā)射率測(cè)量?jī)x ae1/rd1，是專門(mén)針對(duì)測(cè)量物體的輻射率設(shè)計(jì)的，ae1測(cè)量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）？蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測(cè)頭能使測(cè)量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對(duì)小直徑圓柱形面樣品測(cè)量，可以測(cè)量平行放置的多個(gè)樣品。
更新時(shí)間:2025-07-05
美國(guó)sonix 晶圓檢測(cè)設(shè)備 autowafe pro.為全自動(dòng)晶圓檢測(cè)設(shè)計(jì)的機(jī)型，主要應(yīng)用在bond wafer，mems 內(nèi)部空洞、離層檢測(cè)，tsv量測(cè)方面。
更新時(shí)間:2025-07-05
美國(guó)泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-07-05
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來(lái)實(shí)現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計(jì), coreafm非常合理的實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時(shí)間:2025-07-05
韓國(guó)ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性，可以測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時(shí)間:2025-07-05
美國(guó) mmr 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學(xué)特性，利用范德堡測(cè)量技術(shù)測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場(chǎng)三部分。
更新時(shí)間:2025-07-05
半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)kup007，emp100c，emp100b，emp50s
更新時(shí)間:2025-07-05
德國(guó)mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號(hào)得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時(shí)間:2025-07-05
ftpadv 臺(tái)式薄膜探針?lè)瓷鋬x臺(tái)式薄膜探針?lè)瓷鋬xftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺(tái)式反射膜厚儀解決方案，它具有非？焖俚暮穸葴y(cè)量。在100毫秒以內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測(cè)量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預(yù)定配方。
更新時(shí)間:2025-07-05
ftpadv expert 綜合薄膜測(cè)量軟件，光譜反射測(cè)量軟件ftpadv expert是專門(mén)為測(cè)量和分析r(λ)和t(λ)而設(shè)計(jì)的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析，這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測(cè)量軟件中，使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
更新時(shí)間:2025-07-05
mdpinline 光伏測(cè)量?jī)x器，一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動(dòng)掃描硅晶片而設(shè)計(jì)的，它以每片不到一秒的時(shí)間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測(cè)光電導(dǎo)率定量測(cè)量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計(jì)，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時(shí)間:2025-07-05
mdpinline ingot 光伏測(cè)量?jī)x器，多晶形貌少子壽命測(cè)量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對(duì)于一個(gè)面，以1毫米的分辨率，無(wú)接觸、無(wú)破壞地測(cè)量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測(cè)爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，以便測(cè)量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-07-05
mdpinline ingot 光伏測(cè)量?jī)x器，多晶形貌少子壽命測(cè)量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對(duì)于一個(gè)面，以1毫米的分辨率，無(wú)接觸、無(wú)破壞地測(cè)量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測(cè)爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，以便測(cè)量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-07-05
德國(guó)sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測(cè)量?jī)x器的特征在于以1mm分辨率對(duì)500mm的一個(gè)面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測(cè)量完全無(wú)觸摸。利用微波檢測(cè)光電導(dǎo)率(mdp)同時(shí)測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和p/n導(dǎo)電類型的變化。
更新時(shí)間:2025-07-05
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動(dòng)大面積掃描儀器。自動(dòng)表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監(jiān)測(cè)大型玻璃基板上的沉積過(guò)程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開(kāi)始生產(chǎn)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2025-07-05
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測(cè)量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測(cè)沉積過(guò)程的穩(wěn)定性。由此，可以優(yōu)化維護(hù)時(shí)間間隔。
更新時(shí)間:2025-07-05
德國(guó)sentech光伏測(cè)量?jī)x器mdpspot，具有成本效益的臺(tái)式少子壽命測(cè)試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測(cè)量提供了一個(gè)測(cè)量點(diǎn)。 低成本桌面式壽命測(cè)量系統(tǒng)，用于手動(dòng)操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動(dòng)操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測(cè)量結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-07-05
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測(cè)量是rt inline的設(shè)計(jì)特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內(nèi)部參考測(cè)量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過(guò)程的在線監(jiān)測(cè)。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
更新時(shí)間:2025-07-05
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(zhǎng)速率，厚度，折射率)，在短時(shí)間內(nèi)開(kāi)發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-07-05
ns550a眼鏡鏡片光學(xué)透過(guò)率儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-07-05
ns365多波段透過(guò)率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示
更新時(shí)間:2025-07-05
ns500中空玻璃測(cè)厚儀專用于測(cè)量單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測(cè)量。對(duì)于中空玻璃厚度的測(cè)量，同時(shí)測(cè)得各層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時(shí)間:2025-07-05
ns550a臺(tái)式透光率儀 測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-07-05
ns12高精度透過(guò)率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-07-05
ns10a防爆膜測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-07-05
ns13a光學(xué)透過(guò)率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-07-05
ns550ir油墨透光率儀的測(cè)試原理是采用紅外850nm光源，紅外940nm光源和可見(jiàn)550nm光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率,用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-07-05
ns11太陽(yáng)膜透過(guò)率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，可見(jiàn)光源和紅外光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-07-05
ns530a汽車(chē)前擋玻璃透光率儀具有的三個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元分別為紫外，紅外，和可見(jiàn)光，顯示值為紅外透過(guò)率值，紫外透過(guò)率值和可見(jiàn)光透過(guò)率值。
更新時(shí)間:2025-07-05
ns101汽車(chē)太陽(yáng)膜透光率測(cè)試儀高精度防爆膜測(cè)試儀建筑膜檢測(cè)儀器的測(cè)試原理是采用紫外光源,可見(jiàn)光源和紅外光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率,用百分?jǐn)?shù)表示。大多數(shù)的太陽(yáng)膜,可見(jiàn)光標(biāo)注透過(guò)率指標(biāo),紅外線和紫外線標(biāo)注阻隔率指標(biāo),阻隔率=100%-透過(guò)率。ns101直接測(cè)量和顯示紫外線的阻隔率,紅外線的阻隔率和可見(jiàn)光透過(guò)率,
更新時(shí)間:2025-07-05
ns530a汽車(chē)前檔貼膜透光率測(cè)試儀具有三個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元分別為紫外，紅外，和可見(jiàn)光，顯示值為紅外透過(guò)率值，紫外透過(guò)率值和可見(jiàn)光透過(guò)率值。
更新時(shí)間:2025-07-05
ns13a卡式便攜式透光率儀，透光率測(cè)試儀，透光率檢測(cè)儀，透光率計(jì)，透過(guò)率測(cè)試儀，玻璃透光率儀，鏡片透光率測(cè)試儀，眼鏡片透光率儀，透明材料透光率儀，涂料透光率儀，太陽(yáng)鏡片透光率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-07-05
ns550h臺(tái)式光學(xué)透過(guò)率測(cè)試儀測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-07-05
ns15a透光率儀是一款寬譜線可見(jiàn)光(380nm～760nm)測(cè)量?jī)x，測(cè)試原理是采用三路完全相同的可見(jiàn)光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三路光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-07-05
ns500中空玻璃空氣層厚度測(cè)量?jī)x測(cè)試原理是利用光學(xué)反射原理，可在玻璃的單側(cè)表面測(cè)量玻璃厚度，尤其適用于通用測(cè)量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃（中空玻璃）窗厚度的測(cè)量。對(duì)于空氣夾層玻璃的測(cè)量，還可以同時(shí)獲得兩層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時(shí)間:2025-07-05
美國(guó)nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國(guó)際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試，具有測(cè)量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場(chǎng)使用。
更新時(shí)間:2025-07-05
德國(guó) yxlon 高分辨率ｘ射線檢測(cè)設(shè)備 y.cougar smt 平板探測(cè)器（標(biāo)配） y.cheetah 高速平板探測(cè)器（標(biāo)配）
更新時(shí)間:2025-07-05
美國(guó)royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-05
美國(guó)royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側(cè)面檢測(cè),可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時(shí)間:2025-07-05
美國(guó)rti自動(dòng)特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個(gè)性價(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個(gè)channel，提供4種型號(hào)可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣，mt century系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有與950系列的測(cè)試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時(shí)間:2025-07-05
德國(guó)klocke nanotech納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x3d nanofinger，是一種實(shí)用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測(cè)量設(shè)備。由臺(tái)架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測(cè)量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進(jìn)行在線檢測(cè)、質(zhì)量控制等。
更新時(shí)間:2025-07-05
日本a&d粒子計(jì)數(shù)器（粒度計(jì)）sv-1a,是使用點(diǎn)監(jiān)測(cè)的低成本替代設(shè)備,計(jì)數(shù)值高達(dá)2,000,000個(gè)粒子/ft.
更新時(shí)間:2025-07-05
美國(guó)filmetrics 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-05
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