概述: x射線發(fā)生系統(tǒng)為x射線聚焦光學(xué)系統(tǒng)(聚焦導(dǎo)管)與x射線源相結(jié)合,并且可以照射出實(shí)際照射直徑 為 0.1mmφ以下高強(qiáng)度的x射線束。為此,可以對以往x射線熒光鍍層厚度測量儀由于照射強(qiáng)度不足而 無法得到理想精度的導(dǎo)線架、插接頭、柔性線路板等微小部件及薄膜進(jìn)行測量。同時(shí)搭載高計(jì)數(shù)率、 高分辨率的半導(dǎo)體檢測器,在測量鍍層厚度的同時(shí),也能對rohs、elv、中國版rohs等法規(guī)所管制的 有害物質(zhì)進(jìn)行分析測量。
更新時(shí)間:2025-09-10