涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家
蘭宇測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)域。
更新時(shí)間:2025-09-08
蘭宇測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)域。
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蘭宇測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)域。
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蘭宇測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)域。
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蘭宇測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)域。
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蘭宇測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)域。
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蘭宇測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)域。
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蘭宇測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)域。
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蘭宇測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)域。
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蘭宇測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)域。
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蘭宇測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車(chē)、造船、輕工、商檢等檢測(cè)域。
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涂層測(cè)厚儀 可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
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zaa2300型自動(dòng)涂布機(jī)（瑞士zehntner）用于涂料，油漆油墨等化學(xué)工業(yè)自動(dòng)涂布，再現(xiàn)性佳，避免手動(dòng)涂布的不確定性。
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鍍層膜厚分析儀注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
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鍍層膜厚分析儀注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
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標(biāo)準(zhǔn)配置鍍層厚度分析儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
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標(biāo)準(zhǔn)配置鍍層厚度分析儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
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標(biāo)準(zhǔn)配置鍍層厚度分析儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
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標(biāo)準(zhǔn)配置鍍層厚度分析儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
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標(biāo)準(zhǔn)配置鍍層厚度分析儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
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鍍層厚度測(cè)量?jī)x鋅鎳合金專用光譜儀型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
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合金成分鍍層膜厚分析儀器注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
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鉛玻璃屏蔽罩。合金鍍層膜厚儀高低壓電源。x光管。高度傳感器保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
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鉛玻璃屏蔽罩。合金鍍層膜厚儀高低壓電源。x光管。高度傳感器保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
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合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
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合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
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電鍍液鍍層含量測(cè)定鍍層測(cè)厚儀 型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時(shí)間:2025-09-08
鍍層膜厚儀 型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
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xrf電鍍層膜厚儀 開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時(shí)間:2025-09-08
xrf電鍍層膜厚儀 開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
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鍍層厚度測(cè)試分析儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
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天瑞儀器thick800a 注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞
更新時(shí)間:2025-09-08
x射線鍍層測(cè)厚檢測(cè)儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。x光管。
更新時(shí)間:2025-09-08
國(guó)產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
更新時(shí)間:2025-09-08
國(guó)產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
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國(guó)產(chǎn)x鍍層測(cè)厚儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。
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天瑞儀器光譜儀thick800a 同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
更新時(shí)間:2025-09-08
x鍍層測(cè)厚儀注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
更新時(shí)間:2025-09-08
電鍍滾鍍廠測(cè)厚儀：thick800a測(cè)定步驟：步：新建snpb-cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線第二步：確定測(cè)試時(shí)間：40s第三步：測(cè)試其重復(fù)性得出相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差
更新時(shí)間:2025-09-08
x射線鍍層測(cè)厚檢測(cè)儀針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過(guò)軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求；配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析；
更新時(shí)間:2025-09-08
電鍍層測(cè)厚儀型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
更新時(shí)間:2025-09-08
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。銅鍍鎳鍍鋅測(cè)厚膜厚儀相互立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源: 交流220v±5v, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
更新時(shí)間:2025-09-08
多元素復(fù)合鍍層測(cè)試儀 型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時(shí)間:2025-09-08
thick800a 膜厚儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時(shí)間:2025-09-08
thick800a 膜厚儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時(shí)間:2025-09-08
鍍層膜厚測(cè)厚儀型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
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鍍層厚度檢測(cè)儀 型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
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