孔徑/隙度分析儀產品及廠家

AutoPoreV孔徑分析儀
autoporev孔徑分析儀 壓汞分析技術是基于在控制的壓力下將汞壓入孔結構中的方法實現(xiàn)的。除快速、及分析范圍廣等優(yōu)點外，孔徑分析儀還允許用戶計算得到眾多樣品特性，例如：孔徑分布、總孔體積、總孔比表面積、中值孔徑及樣品密度
更新時間:2025-06-24
真密度/開孔閉孔率測定儀
金埃譜g-denpyc2900全自動真密度測定儀測試精度高(±0.02%),重復性好(±0.01%),測試分辨率0.0001g/cc,金埃譜全自動真密度測定儀采用專有的g-dengyc型填充技術,可根據樣品量體積大小,靈活選擇不同體積的填塞鋁塊,實現(xiàn)樣品池自由空間最小,提高測試精度,免除針對不同體積樣品更換不同樣品池操作.
更新時間:2025-06-23
比表面積分析儀
采用高精度及高集成度數據采集模塊,連接方便,誤差小,抗干擾能力;采用業(yè)界標準的485通訊模式,有利于設備擴展和互連,可方便轉換為所需的rs232和usb通訊模式;
更新時間:2025-06-23
比表面F-Sorb 1400CE
測試方法:bet法比表面(多點及單點)測量,langmuir比表面測量,炭黑外比表面積測量,平均粒徑估算,直接對比法比表面測量,氮吸附連續(xù)流動法,樣品吸附常數c測定
更新時間:2025-06-23
直接對比法比表面積測定儀
比表面積測定儀f-sorb 1400是目前國內同類產品中唯一完全自動化,智能化的比表面積測量儀器,由金埃譜科技與兵器系統(tǒng)合作研發(fā),秉承兵器行業(yè)高標準,嚴要求的技術宗旨,依據國際經典比表面積測定理論和原理,采用國內外通用比表面積測定方法,符合國際比表面積測定標準,顯著提高產品穩(wěn)定性和使用壽命,測試結果更準確,操作簡單快捷,大大節(jié)省測試人員工作量
更新時間:2025-06-23
全自動比表面及孔隙度分析儀
金埃譜科技是國內最早參與比表面積標準物質標定的機構,測試結果與國外數據可比性平行性最好,并獲取權威認證機構的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內同行業(yè)中注冊資本規(guī)模最大,唯一通過iso9001質量認證的生產企業(yè),雄厚實力和完善的質量及服務體系,讓您選購的產品無后顧之憂!
更新時間:2025-06-23
比表面積及孔徑分布測定儀V-Sorb 2800
v-sorb 2800是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動智能化比表面積和孔徑測定儀器,采用靜態(tài)容量法測量原理,眾多著名科研院所及500強企業(yè)應用案例,相比國內同類產品,多項獨創(chuàng)技術的采用使產品整體性能更加完善,測試結果的準確性和一致性進一步提高,測試過程的穩(wěn)定性更強,達到國際同類產品先進水平,部分功能超越國外產品.
更新時間:2025-06-23
孔隙率測定儀V-Sorb 2800P
v-sorb 4800p是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動智能化比表面積和孔徑檢測儀器,采用靜態(tài)容量法測量原理,眾多著名科研院所及500強企業(yè)應用案例,相比國內同類產品,金埃譜比表面及孔徑分布測定儀多項獨創(chuàng)技術的采用使產品整體性能更加完善,金埃譜比表面及孔徑分布測定儀測試結果的準確性和一致性進一步提高,金埃譜比表面及孔徑分布測定儀測試過程的穩(wěn)定性更強,金埃譜比表面及孔徑分布測定儀達到國際同類產品先進水平,部分功能超越國外產品.
更新時間:2025-06-23
全自動比表面積及孔隙度測定儀
金埃譜科技是國內最早參與比表面積標準物質標定的機構,測試結果與國外數據可比性平行性最好,并獲取權威認證機構的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內同行業(yè)中注冊資本規(guī)模最大,唯一通過iso9001質量認證的生產企業(yè),雄厚實力和完善的質量及服務體系,讓您選購的產品無后顧之憂!
更新時間:2025-06-23
比表面和孔隙率分析儀
金埃譜科技是國內最早參與比表面積標準物質標定的機構,測試結果與國外數據可比性平行性最好,并獲取權威認證機構的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內同行業(yè)中注冊資本規(guī)模最大,唯一通過iso9001質量認證的生產企業(yè),雄厚實力和完善的質量及服務體系,讓您選購的產品無后顧之憂!
更新時間:2025-06-23
比表面積和孔隙率分析儀
v-sorb 4800p是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動智能化比表面積和孔徑測定儀器,采用靜態(tài)容量法測量原理,眾多著名科研院所及500強企業(yè)應用案例,相比國內同類產品,多項獨創(chuàng)技術的采用使產品整體性能更加完善,測試結果的準確性和一致性進一步提高,測試過程的穩(wěn)定性更強,達到國際同類產品先進水平,部分功能超越國外產品.
更新時間:2025-06-23
比表面及孔徑分布測定儀
金埃譜科技是國內最早參與比表面積標準物質標定的機構,測試結果與國外數據可比性平行性最好,并獲取權威認證機構的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內同行業(yè)中注冊資本規(guī)模最大,唯一通過iso9001質量認證的生產企業(yè),雄厚實力和完善的質量及服務體系,讓您選購的產品無后顧之憂!
更新時間:2025-06-23
比表面及孔隙率分析儀
測試方法及功能:氮吸附靜態(tài)容量法,吸附及脫附等溫線測定,bjh總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測定,t-plot圖法微孔分析,mp法微孔分析,hk法微孔分析,bet法比表面積測定(單點及多點),langmuir法比表面積測定,平均粒徑估算,t－plot圖法外比表面積測定;
更新時間:2025-06-23
孔徑測定儀V-Sorb 2800
v-sorb 2800是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動智能化比表面積和孔徑測定儀器,采用靜態(tài)容量法測量原理,眾多著名科研院所及500強企業(yè)應用案例,相比國內同類產品,多項獨創(chuàng)技術的采用使產品整體性能更加完善,測試結果的準確性和一致性進一步提高,測試過程的穩(wěn)定性更強,達到國際同類產品先進水平,部分功能超越國外產品.
更新時間:2025-06-23
比表面積及孔隙度分析儀、比表面積及孔隙度分析儀
v-sorb 4800p是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動智能化比表面積和孔徑測定儀器,采用靜態(tài)容量法測量原理,眾多著名科研院所及500強企業(yè)應用案例,相比國內同類產品,金埃譜比表面及孔徑檢測儀多項獨創(chuàng)技術的采用使產品整體性能更加完善,金埃譜比表面及孔徑檢測儀測試結果的準確性和一致性進一步提高,金埃譜比表面及孔徑檢測儀測試過程的穩(wěn)定性更強,金埃譜比表面及孔徑檢測儀達到國際同類產品先進水平,
更新時間:2025-06-23
孔隙度測定儀/孔隙度測定儀
測試方法及功能:真空容量法(真空靜態(tài)法),吸附及脫附等溫線測定,bjh總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測定,t-plot圖法微孔分析,mp法微孔分析,hk法微孔分析,bet法比表面積測定(單點及多點),langmuir法比表面積測定,平均粒徑估算,t－plot圖法外比表面積測定
更新時間:2025-06-23
比表面積及孔徑分布測試儀、全自動比表面積及孔徑分布測試儀
國內率先推出與國際接軌的全自動型比表面及孔徑分析儀，多項f-sorb獨創(chuàng)技術已成為國內其他廠商效仿的典范；目前國內同類產品中，唯一實現(xiàn)完全自動化和智能化測試的同時，保持高穩(wěn)定性和高測試精度的產品；
更新時間:2025-06-23
北京孔隙度測定儀
金埃譜科技是國內最早參與比表面積標準物質標定的機構,測試結果與國外數據可比性平行性最好,并獲取權威認證機構的檢測證書,同時金埃譜科技也是國內同行業(yè)中注冊資本規(guī)模最大,唯一通過iso9001質量認證的生產企業(yè),雄厚實力和完善的質量及服務體系,讓您選購的產品無后顧之憂!
更新時間:2025-06-23
北京比表面積及孔徑分布測試儀
獨特設計的抽氣及進氣控制系統(tǒng),有效防止樣品抽真空和進氣過程中的飛濺,確保測試氣路的清潔和樣品質量無損失,保護高精度壓力傳感器免受壓力巨變可能導致的零點和線性漂移;
更新時間:2025-06-23
比表面及孔隙度分析儀價格
v-sorb 4800p是金埃譜科技自主研發(fā)的全自動智能化比表面積和孔徑測定儀器,采用靜態(tài)容量法測量原理,眾多著名科研院所及500強企業(yè)應用案例,相比國內同類產品,金埃譜比表面及孔隙率檢測儀多項獨創(chuàng)技術的采用使產品整體性能更加完善,金埃譜比表面及孔隙率檢測儀測試結果的準確性和一致性進一步提高,金埃譜比表面及孔隙率檢測儀測試過程的穩(wěn)定性更強,金埃譜比表面及孔隙
更新時間:2025-06-23
北京全自動比表面積及孔隙度測定儀
樣品數量：同時進行2個樣品分析和2個樣品脫氣處理,樣品測試系統(tǒng)和樣品處理系統(tǒng)相互獨立,并且樣品測試和樣品脫氣處理可以同時進行,避免了測試管路受到污染,從而進一步確保測試的精度和提高儀器使用壽命
更新時間:2025-06-23
孔隙率測定儀/孔隙率測定儀
數據處理:windows兼容數據處理軟件,功能完善,操作簡單,多種模式數據分析,圖形化數據分析結果報表
更新時間:2025-06-23
比表面積及孔徑分布測定儀、比表面積及孔徑分布測定儀
測試方法及功能:氮吸附靜態(tài)容量法,吸附及脫附等溫線測定,bjh總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測定,t-plot圖法微孔分析,mp法微孔分析,hk法微孔分析,bet法比表面積測定(單點及多點),langmuir法比表面積測定,平均粒徑估算,t－plot圖法外比表面積測定;
更新時間:2025-06-23

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