二次離子質譜儀產品及廠家
tescan 提供的解決方案是將飛行時間二次離子質譜與 fib-sem 系統集成。這種組合能夠為用戶提供固體材料的 3d 化學表征和分子信息，高離子質量分辨率和高空間分辨率成像等，并可以進行原位 fib 深度分析。
更新時間:2025-08-21
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