其他產(chǎn)品及廠家

梅特勒電極(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-09-05
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-09-05
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-09-05
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個data,依次,p3是個data.
更新時間:2025-09-05
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-09-05
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實會變差,這個當然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會變好,這樣畫面就比像素低的更加的細膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-09-05
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關的口進行接口匹配。
更新時間:2025-09-05
MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題
mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個聯(lián)盟,旨在把手機內(nèi)部的接口如存儲接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標準化,減少兼容性問題并簡化設計。
更新時間:2025-09-05
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中,這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道,包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-09-05
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題 重起問題
更新時間:2025-09-05
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
更新時間:2025-09-05
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動
更新時間:2025-09-05
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗
更新時間:2025-09-05
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-09-05
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序:
更新時間:2025-09-05
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯誤,可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-09-05
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時,eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用,該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2025-09-05
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具,硬件測試,ddr測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
更新時間:2025-09-05
城市道路積水監(jiān)測系統(tǒng)
城市道路積水監(jiān)測系統(tǒng)是山東天合環(huán)境科技有限公司研發(fā)生產(chǎn),可以及時避免人員、車輛誤入深水路段造成重大人身傷害與經(jīng)濟損失。
更新時間:2025-09-05
JUKI飛達校正儀貼片機飛達校正儀 氣動飛達校正儀/SMT飛達顯示器
商品名稱:juki feeder校正儀商品品牌:鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地:深圳商品尺寸(mm):l500*w350*h500商品重量:約35kg適用機型:juki系列機型
更新時間:2025-09-05
出租Tektronix USB2.0測試夾具
出租tektronix usb2.0測試夾具
更新時間:2025-09-05
EMMC 上電時序測試 電源紋波測試
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時,焊盤部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導致貼片虛焊。
更新時間:2025-09-05
EMMC 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線,而且接地點夾在了單板的固定螺釘上,整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-09-05
EMMC 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
emmc 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
更新時間:2025-09-05
EMMC 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-09-05
EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開,屏蔽層焊接在被測電路地上,中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本,低衰減比,缺點是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2025-09-05
Emmc5 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
相關產(chǎn)品:emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說,emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-09-05
EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2025-09-05
EMMC5 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-09-05
EMMC5 復位測試 CLK測試
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-09-05
EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復位測試
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-09-05
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
相關產(chǎn)品:電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-09-05
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
相關產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號相同,用于 host 端進行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性,省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-09-05
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試
相關產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2025-09-05
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-09-05
控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試 EMMC 復位測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時間:2025-09-05
數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時間:2025-09-05
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試,眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值,不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-09-05
數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下,data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
更新時間:2025-09-05
復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時,host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測試過程(bus testing procedure),測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-09-05
慢走絲過濾器,慢走絲離子交換樹脂
本公司長期有:三菱線切割原廠配件,沙迪克線切機原廠配件,西部線切割機原廠配件,日立線切割機原廠配件,慶鴻線切割機原廠配件,亞特/茗亞線切割機原廠配件,富士通線切割機原廠配件,夏米爾線切割機原廠配件,臺灣三貴火花機用配件等。多種線切割與打孔機配件,耗材批發(fā)出售。
更新時間:2025-09-04
磨床永磁吸盤廠家直銷保修一年
各規(guī)格型號磁盤:電磁吸盤,加工中心強力吸盤,磨床永磁吸盤,雕刻機細目永磁 吸盤,火花機磁盤,線切割磁盤,磨刀機專業(yè)磁盤,一體正弦臺,彎弓正弦臺,雙傾正弦臺,旋轉磁臺,直角磁臺,圓形吸盤,紅銅.黃銅永磁吸盤,雙面永磁吸盤,導磁塊等……機床精密配件.定做非標吸盤
更新時間:2025-09-04
日本NIKON高度計
日本 nikon高度計:加高型精密高度計,量程小于等于100mm的產(chǎn)品高度、厚度與深度測量。日本nikon高度計:流水生產(chǎn)線可以每線一臺,高精度高效測量,是高精度產(chǎn)品生產(chǎn)企業(yè)最佳選擇。日本nikon高度計:選配特殊測針,可完成小深孔,盲孔測量,這是三坐標,影像儀,投影儀與顯微鏡無法代替的特點,特制測頭還可測
更新時間:2025-09-04
德國Minro米諾高度計特價批發(fā)
米諾高度計非常順滑的柱塞運動。米諾高度計周期可靠性優(yōu)于2,000,000hz,保證高速位移時不丟失數(shù)據(jù)。米諾高度計靈活選擇的探針。米諾高度計0-50mm或0-100mm的測量范圍可選。
更新時間:2025-09-04
寧波CNC高速電火花細孔穿孔機
余姚高速電火花穿孔機采用電極管(黃銅管,紫銅管)作為工具電極利用電火花放電蝕除原理,在電極與工作之間施加高頻脈沖電源形成小脈寬,電流的放電加工,輔以高壓水冷卻排渣,使工件的蝕除速度加快,特別適用于不銹鋼,淬火鋼,銅,鋁,硬質(zhì)合金等各種導電材料上加工直徑0.15-2.0之間的深小孔,深度100mm,可直接在工件的斜面,曲加工,用于電火花線切割加工的穿絲孔,化纖噴絲頭,噴絲板的噴絲孔,濾板,篩板的群孔
更新時間:2025-09-04
日本CV-10小泉測距筆 深圳總代理
cv-10/測距筆在儀器中設置和比例尺后,可以測量地圖、圖紙、衣服、玻璃等平面上的各種線條的長度,并無線傳輸測量數(shù)據(jù)到電腦中(另外購買cv-10rcv可實時這功能)。是旅游 設計 規(guī)劃 偵探 生產(chǎn)測量 航;顒拥暮脦褪。
更新時間:2025-09-04
rd7100系列定位儀采用英雷迪公司的定位技術,每個型號經(jīng)過優(yōu)化設計于定位類行業(yè)設施。用戶可根據(jù)需要,通過簡潔的菜單選項自由選擇所需功能。
更新時間:2025-09-04
準確性管線探測儀
pvc塑料水管因其不易腐蝕,埋設方便和格低廉,在供水管網(wǎng)中的使用愈益廣泛,隨之而來,對塑料管道的追蹤和定位成為探測技術的課題,rd500塑料管道探測儀以全的震動法開創(chuàng)了塑料管道探測技術的先河。
更新時間:2025-09-04
深圳探地雷達廠
rd7100精確定位儀是英雷迪針對具體行業(yè)的系列產(chǎn),沿承本公司定位儀產(chǎn)的貫性能、質(zhì)和耐用性而傾力制造。rd7100的所有型號均采用英雷迪的定位技術,每個型號經(jīng)過優(yōu)化設計于定位類行業(yè)設施。內(nèi)置gps和使用記錄選項能夠自動生成數(shù)據(jù),可用于工作報告或內(nèi)部質(zhì)量和安全審計,以推動完善佳作業(yè)實
更新時間:2025-09-04

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑