場發(fā)射掃描電鏡產品及廠家
jem-f200 場發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的jem-f200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
更新時間:2025-07-02
德國zeiss場發(fā)射電子顯微鏡sigma 300 ，專利gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性， 卓越的低電壓性能，in lens 探測器，磁性材料高分辨觀察。
更新時間:2025-07-02
thermo scientific helios 5 d ualbeam 產品系列憑借其最先進的聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動化和易用性特征，重新定義了樣品制備和三維表征的標準。
更新時間:2025-07-02
超大樣品臺（標配，僅適用于 phenom xl）phenom xl 電鏡腔室由原來的 32 mm 擴容為 100 mm x 100 mm，一次可容納至多 36 個 1/2 英寸樣品臺樣品最大尺寸：長 100 mm；寬 100 mm；高度 65 mm用這個樣品臺可以對各種各樣的樣品成像
更新時間:2025-07-01
設計用于冶金/金相樣品的觀察（鑲嵌在樹脂里）最大尺寸：直徑32mm；高度30mm
更新時間:2025-06-27
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構。基于高亮度 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達到 10 nm，同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
更新時間:2025-06-27
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結構；诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達到 10 nm，同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
更新時間:2025-06-27
秉承飛納臺式掃描電鏡系列全自動操作、快速成像、不噴金觀看不導電樣品、完全防震、性能穩(wěn)定的特點，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺式掃描電鏡 phenom pharos g2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射電子源，使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像，分辨率優(yōu)于 1.5nm
更新時間:2025-06-27
暗明場成像原理:晶體薄膜樣品明暗場成像的襯度(即不同區(qū)域的亮暗差別),是由于樣品相應的不同部位結構或取向的差別導致衍射強度的差異而形成的,因此稱其為衍射襯度,以衍射襯度機制為主而形成的圖像稱為衍襯像。如果只允許透射束通過物鏡光欄成像,稱其為
更新時間:2025-06-26
shnti的x-射線薄膜窗能夠實現(xiàn)軟x-射線(如真空紫外線)的最大透射率。主要用于同步輻射x射線透射顯微成像時承載樣品。 x-射線越軟(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特別在“離軸”狀態(tài)工作（即薄膜與光束成一定角度）時，也需要較薄的薄膜窗口，便于x射線更好地穿透。
更新時間:2025-06-25
安捷倫8500fe-sem為研究者提供場發(fā)射掃描電鏡。這個緊湊、創(chuàng)新的系統(tǒng)優(yōu)化了低電壓成像，特別是表面高對比度，可以得到一般在更大，更昂貴的場發(fā)射顯微鏡才能得到的分辨率。8500安裝使用很方便，不需特別的場地要求，只需一個接線板。設計緊湊，為實驗室中的研究者提供了以前只有傳統(tǒng)場發(fā)射電鏡才能得到的性能。8500經(jīng)過精心設計，可以提供持續(xù)，可重復的性能，成本是業(yè)界最低的
更新時間:2025-06-25
發(fā)射掃描電鏡sem相關檢測 項目細則收費說明僅形貌觀察每個樣品*20min，超出時間將按照每20min一個樣計算；樣限取5張照片/樣//僅元素分析測試eds元素分析/分布包括：點分析（限3點
更新時間:2025-06-25
tescan gaia3電鏡系統(tǒng)完美的集成了超高分辨率的電子光學系統(tǒng)和高性能的離子束系統(tǒng)，二者配置于同一樣品室上。gaia3電鏡以maia3場發(fā)射掃描電鏡為平臺，在保留maia3優(yōu)越性能的基礎上，增加了使用聚焦離子束進行樣品表面處理的功能。gaia3具有創(chuàng)新性的場發(fā)射電鏡設計，低電壓下仍具有出色的分辨率，大大提高了其成像能力。與一般電鏡的電磁物鏡相比，gaia3具有較窄小的電磁物鏡，同時inbeam-se探頭和inbeam-bse探頭的位置都位于透鏡內，這些設計都為fib及其他分析設備提供了充足空間，使之能夠在樣品表面完成多項工作。
更新時間:2025-06-25
分析高效為特點的獨創(chuàng)設計。該型號樣品臺行程大，可承受最大樣品重量甚至可達10kg，是現(xiàn)有樣品臺可載重最大的掃描電子顯微鏡。使用于航空航天，汽車配件，發(fā)動機等事業(yè)單位和研究單位，其超大的樣品室和載重可為您帶來無可比擬的便捷，使得對一些不方便進行切割等處理的樣品的觀察成為可能。該系列中的cobra型號離子槍更提供了前所未有的分辨率。
更新時間:2025-06-25
學系統(tǒng)。相比于常規(guī)物鏡，它采用了tescan獨特構造的60度磁浸沒物鏡，它能顯著地減小光學像差，在低電壓下依然有著超高的分辨率。另外，添加的中磁透鏡可以和物鏡同時使用或者代替物鏡觀察，以提供多種顯示模式。
更新時間:2025-06-25
gmu/gmh/xmu/xmh/lmh/lmumira 3 gmu/gmh是tescan最新推出的場發(fā)射掃描電子顯微鏡系列中樣品室最大的一款,以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎的系列產品.具有很多用戶使用方便,產品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計。mira 3 xmu/xmh是tescan最新推出的場發(fā)射掃描電子顯微鏡系列,以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎的系列產品.具有很多用戶使用方便,產品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計。 mira 3 lmh/lmu是tescan最新推出的高真空場發(fā)射掃描電子顯微鏡系列,以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎的系列產品.具有很多用戶使用方便,產品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計。
更新時間:2025-06-25
mira 3 gmu/gmh是tescan最新推出的場發(fā)射掃描電子顯微鏡系列中樣品室最大的一款,以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎的系列產品.具有很多用戶使用方便,產品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計。
更新時間:2025-06-25
vega3 indusem是一款可移動的掃描電鏡，可完全滿足工業(yè)生產線上隨時移動、隨時檢測的要求，并以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎.具有使用方便,產品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計. 1.獨有的四透鏡大視野光學（wide field optics?）和tescan特有可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設計，提供了多種工作模式和顯示模式。 2.成像速度快。 3.鏡筒內沒有需要機械對中結構，取而代之的是容易操作和保養(yǎng)的固定光闌。 4.以電磁的方式改變有效物鏡光闌——中間鏡起到“光闌轉換器”的作用。
更新時間:2025-06-25
儀器簡介：vega 3 gmu/gmh是一款以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎的產品.具有使用方便,產品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計,其超大的樣品室和多功能接口將支持分析更多普通掃描電鏡無法分析的樣品。1.獨有的四透鏡大視野光學（wide field optics?）和tescan特有可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設計，提供了多種工作模式和顯示模式。 2.成像速度快。 3.鏡筒內沒有需要機械對中結構，取而代之的是容易操作和保養(yǎng)的固定光闌。 4.以電磁的方式改變有效物鏡光闌——中間鏡起到“光闌轉換器”的作用。 5.高吞吐量/自動取域。例：自動顆粒定點分析。
更新時間:2025-06-25
maia3是新開發(fā)的分析用掃描電子顯微鏡，它可以得到在15kv下1nm的超高分辨率。采用二次電子信號，在1kv下分辨率為1.4nm。此型號電鏡配備肖特基場發(fā)射電子槍，以及tescan先進的三透鏡電子光學系統(tǒng)。相比于常規(guī)物鏡，它采用了tescan獨特構造的60度磁浸沒物鏡，它能顯著地減小光學像差，在低電壓下依然有著超高的分辨率。另外，添加的中磁透鏡可以和物鏡同時使用或者代替物鏡觀察，以提供多種顯示模式
更新時間:2025-06-25
riserise顯微鏡集成了一臺獨立的掃描電鏡和一臺共聚焦拉曼顯微鏡的所有功能于一體！裨诶庾V和掃描電鏡之間快速方便的轉換●從一個測量位置到另一個測量位置的自動化樣品轉移●對用戶友好的軟件集成接口●測量結果的相關性分析和圖像
更新時間:2025-06-25
lyra 3 xmu/xmh是tescan最新推出的一款聚焦離子束掃描電鏡,以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎的系列產品.具有使用方便,產品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計。該型號樣品臺行程大，可承受最大樣品重量甚至可達10kg，是現(xiàn)有樣品臺可載重最大的掃描電子顯微鏡。使用于航空航天，汽車配件，發(fā)動機等事業(yè)單位和研究單位，其超大的樣品室和載重可為您帶來無可比擬的便捷，使得對一些不方便進行切割等處理的樣品的觀察成為可能。該系列中的cobra型號離子槍更提供了前所未有的分辨率。
更新時間:2025-06-25
--搭載全新用戶界面，向所有用戶提供高畫質圖像-- 日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片
更新時間:2025-06-24
、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監(jiān)測ro水和up水水質2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監(jiān)控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產水水質進水要求
更新時間:2025-06-24
日立發(fā)布的200kv球差校正透射電鏡hf5000，具有高穩(wěn)定冷場發(fā)射電子槍，自動球差校正器，可一鍵操作實現(xiàn)自動球差校正，haadf-stem分辨率可以達到0.78埃；可配置eds雙探頭，固體角最大可達2.0sr；具備tem、stem，sem和電子衍射等多種圖像觀測模式；鏡筒和樣品臺經(jīng)過了重新設計，顯著提升了儀器的性能和穩(wěn)定性......hf5000將是材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領域的可靠助手。
更新時間:2025-06-24
日立新一代全數(shù)字化120kv透射電子顯微鏡ht7800，屬于日立瑠璃系列產品ruli tem，操作的一體化和自動化程度都有明顯提高。ht7800系列產品有兩個型號ht7800和ht7830。
更新時間:2025-06-24
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能，觀察結束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報告。此外，選配項還可實現(xiàn)更多功能？稍跇悠穫}內加裝光學相機來拍攝照片，以往通過經(jīng)驗尋找目標位置*1，現(xiàn)在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達臺*2，原來需手動調整的操作，現(xiàn)在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時間:2025-06-24
此次推出的su7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據(jù)不同的觀察信號來調整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡稱wd），以獲得最佳的觀察與分析條件，而su7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在同樣的wd的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率！《遥瑂u7000還配置了可同時6通道顯示界面（前代機型只能同時顯示4通道），進一步升級電鏡控制系統(tǒng)，大幅提高了信號獲取速度，由此實現(xiàn)了樣品的高效率觀察。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析
更新時間:2025-06-24
"regulus系列"是日立高新技術的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機型開發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級 "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個機型，均實現(xiàn)了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-06-24
日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時間:2025-06-24
日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采用日立高新技術公司全新開發(fā)的冷場電子槍，實現(xiàn)超高分辨率下觀察的同時，穩(wěn)定的束流亦可滿足長時間下的分析需求。在日立高新的新型冷場發(fā)射掃描電鏡(fe-sem)su8200系列中，有su8220、su8230、su8240三款機型，于5月20日開始
更新時間:2025-06-24
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需最大300萬倍穩(wěn)定觀察的先進半導體器件，高分辨成像所設計。新的電子槍和電子光學設計提高了低加速電壓性能。
更新時間:2025-06-24
日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡su-70 是一種新概念掃描電子顯微鏡。日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡su-70采用了日立經(jīng)過實地驗證的 “semi-in-lens”超高分辨率技術以及肖特基熱場發(fā)射電子槍技術。
更新時間:2025-06-24
日立高新超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8000系列（hitachi uhr fe-sem su8000 series，su8010，su8020，su8030，su8040）具有共同的卓越功能，諸如超高分辨率技術（1.3nm/1.0kv），信號探測系統(tǒng)范圍廣，可操作性強，便于用戶操作等。
更新時間:2025-06-24
可搭載的最 大樣品尺寸：“su3800” 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉，可應對最 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。 “su3900”作為日立高新技術的大型掃描電鏡，標配可搭載最 大直徑300mm樣品的樣品倉，可應對最 大高度為130mm、重量為5kg(比前代機型提高2.5倍*2)的樣品
更新時間:2025-06-24
在以納米技術和生物技術為主的產業(yè)領域里，從物質的微細結構到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺能對應的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時需要進行切割等加工。因此，對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
更新時間:2025-06-24
日立tm4000掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。tm4000優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。
更新時間:2025-06-24
· hexbias偏壓鎢燈絲電子槍； · 的高、低電壓性能； · 高靈敏度五分割背散射電子探測器； · 可變壓力二次電子探測器（高、低真空可用）； · 的操作界面和光鏡導航功能；
更新時間:2025-06-24
現(xiàn)有機型su8240,su8230,su8220及su8010重新整合，衍生而成regulus8240、regulus8230、regulus8220、regulus8100。"regulus系列"繼承了現(xiàn)有機型的觀察和分析性能，配備su8200系列的低噪音冷場發(fā)射電子槍*1，可以獲得高穩(wěn)定的束流。
更新時間:2025-06-24
一、產品優(yōu)勢1. 多種可靠的動物識別算法：傳統(tǒng)灰度識別、輪廓識別、背景識別與多點識別，能夠很好的應付各種復雜的實驗背景，準確跟蹤被測動物的運動軌跡。例如，我們可以通過多點識別（頭部）來很好的
更新時間:2025-06-24
?jcm-7000臺式電鏡sem不僅繼承了日本電子大型電鏡強大的功能，相對于大型掃描電鏡，其自動化程度高，操作簡單便捷，維護保養(yǎng)容易，體積小巧，價格低廉，檢測速度快，從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右。jcm-7000還創(chuàng)新的加入了實時能譜分析和實時3d顯示的功能，更便捷的服務于您的研究和工作。
更新時間:2025-06-23
jsm-it200 sem掃描電鏡是一款操作便捷、使用方便，性價比高的數(shù)字化鎢燈絲掃描電子顯微鏡，可廣泛的應用于各個領域。
更新時間:2025-06-23
jsm-7200f是日本電子株式會社(jeol ltd.)于2015年推出的一款多功能、簡單易用的分析型場發(fā)射掃描電鏡，這款高分辨率掃描電鏡是進行樣品納米級圖像顯微分析與微區(qū)化學成分分析的理想選擇。
更新時間:2025-06-23
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